產品[
MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀
]資料
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產品名稱:
MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀
產品型號:
MiniTest1100/2100/3100/4100
產品展商:
德國EPK
產品文檔:
簡單介紹
MiniTest1100/2100/3100/4100 涂層測厚儀包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能,MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀均可配所有探頭,可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機,可使用一片或二片標準箔校準。F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層FN兩用探頭:同時具備F型和N型探頭的功能.
MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀
的詳細介紹
MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍覆層測厚儀
MiniTest1100/21/31/4100 涂層測厚儀包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能,所有型號均可配所有探頭,可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機,可使用一片或二片標準箔校準。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N型探頭的功能
所有探頭都可配合任一主機使用
在選擇適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素
MiniTest1100/2100/3100/4100 涂層測厚儀數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準
|
型號 |
1100
|
2100
|
3100
|
4100
|
MINITEST存儲的數據量 |
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) |
1
|
1
|
10
|
99
|
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值) |
|
1
|
10
|
99
|
可用各自的日期和時間標識特性的組數 |
|
1
|
500
|
500
|
數據總量 |
1
|
10000
|
10000
|
10000
|
MINITEST統計計算功能 |
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar |
|
√
|
√
|
√
|
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
|
|
√
|
√
|
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar |
|
|
√
|
√
|
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
|
|
√
|
√
|
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 |
|
|
|
√
|
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 |
|
|
√
|
√
|
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 |
|
√
|
√
|
√
|
其他功能 |
設置極限值 |
|
|
√
|
√
|
連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別大小值 |
|
|
√
|
√
|
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 |
|
|
√
|
√
|
連續測量模式中顯示小值 |
|
|
√
|
√
|
|
|
探頭
|
量程
|
低端
分辨率
|
誤差
|
小曲率半徑
(凸/凹)
|
小測量
區域直徑
|
小基
體厚度
|
探頭尺寸
|
磁
感
應
法
|
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x8x170mm
|
F2/90
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x8x170mm
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
兩
用
|
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm/N50μm
|
φ15x62mm
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm/N50μm
|
φ21x89mm
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm/N50μm
|
φ15x62mm
|
電
渦
流
法
|
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x13x170mm
|
N2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
N2/90
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x13x170mm
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
|
無限制
|
φ17x80mm
|
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
測頭 F05 |
(鐵基體涂鍍層 小測量面積直經3mm 0-500um,低端分辨率0.1um) |
測頭 F3 |
(鐵基體涂鍍層 0-3000um,低端分辨率0.2um) |
測頭 F1.6 |
(鐵基體涂鍍層 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
測頭 F1.6P |
(鐵基體上未固化粉末涂層 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
測頭 F1.6/90 |
(鐵基體涂鍍層 測管內壁 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
測頭 F10/2,F20 |
(鐵基體涂鍍層 0-10mm,分辨率5um,0-20mm,分辨率10um) |
測頭 F50 |
(鐵基體涂鍍層 0-50mm,分辨率,10um) |
測頭 FN1.6 |
(鐵及銅鋁基體涂鍍層 0-1600um,分辨率0.1um) |
測頭 FN1.6P |
(鐵及銅鋁基體上未固化粉末涂層 0-1600um,分辨率0.1um) |
測頭 N02 |
(銅鋁基體涂層 0-200um,分辨率,0.1um) |
測頭 N08 Cr |
(銅基體上鍍鉻層 0-800um,分辨率0.1um) |
測頭 N02 Tu |
(鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層 0-200um,分辨率0.1um) |
用于測頭N02 Tu的專用支架 |
|
測頭 N1.6 |
(銅鋁基體涂層 0-1600um,分辨率0.1um) |
測頭 N1.6/90 |
(銅鋁基體涂層 測管內壁 0-1600um,分辨率0.1um) |
測頭 N10/2,N20 |
(銅鋁基體涂鍍層 0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um) |
測頭 N100 |
(鐵及銅鋁基體涂鍍層 0-100mm,分辨率100um) |
測頭 CN 02 |
(敷銅板等 10-200um,分辨率0.2um) |
RS232 接口電纜 for 2100/4100 |
配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于連接個人電腦) |
MSOFT41 數據分析軟件 for 4100 |
配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于連接個人電腦) |